Field Effect Transistor
Biasing of FET
Bipolar Junction Transistor
MOSFET
MOSFET: Enhancement Mode
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
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Darsith Jayachandran1, Rahul Pendurthi2, Muhtasim Ul Karim Sadaf3
1Engineering Science and Mechanics, Penn State University, University Park, PA, USA. darsith6@gmail.com.
研究人员展示了用于先进半导体设备的二维 (2D) 纳米材料的新型三维 (3D) 集成. 这一突破使得高密度和多功能集成电路能够超越目前的能力.
科学领域:
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主要成果:
结论: