黑作为红外成像应用中的反反射结构
Eivind Bardalen1, Angelos Bouchouri1, Muhammad Nadeem Akram1
1Department of Microsystems, University of South-Eastern Norway, Raveien 205, 3184 Borre, Norway.
Nanomaterials (Basel, Switzerland)
|January 11, 2024
概括
黑有效地取代了微波计阵列的传统反射涂层. 这种替代材料保持真空包装,并提供可比或更广泛的光学传输,而不会降低图像质量.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 光学工程是指光学工程.
- 半导体设备 半导体设备
背景情况:
- 未冷却的红外摄像机使用微波计,需要用盖进行真空包装.
- 盖上的传统反射涂层可以最大限度地减少弗雷内尔反射损失.
研究的目的:
- 研究黑作为微波仪真空包装传统反射涂层的替代品.
- 为了评估黑色表面的光学传输和图像质量性能.
主要方法:
- 反应性离子蚀刻被用来创建黑色层和深深的空洞.
- 福里埃变换红外光谱评估了光学传输.
- 调制传递函数测量评估了图像质量.
主要成果:
- 黑色表面的光学传输能力与最先进的反射涂层相美,在8-12微米范围内.
- 使用黑可能实现了高达24微米的更宽带宽传输.
- 当使用黑色加工晶片作为窗口时,没有观察到图像质量的下降.
结论:
- 黑作为有效的反射层,用于微波计真空包装中的盖.
- 这种方法为传统反射涂料提供了可行的替代方案.
- 这项研究突出了红外成像系统中增强光学性能的潜力.


