角膜上皮质厚度测绘:一个主要的审查
Mohammad-Ali Abtahi1, Amir Hushang Beheshtnejad1, Golshan Latifi1
1Farabi Eye Hospital, Tehran University of Medical Sciences, Tehran, Iran.
Journal of ophthalmology
|January 11, 2024
概括
使用OCT和超声波等先进成像技术进行表皮厚度映射 (ETM) 提供了对角膜健康和疾病的关键见解. 本综述综合了不同疾病和手术场景的ETM数据.
科学领域:
- 眼科医生 眼科 眼科
- 角膜成像 角膜成像
- 生物医学工程 生物医学工程
背景情况:
- 角膜上皮 (CE) 对于角膜完整性至关重要,表现出可塑性和补偿机制.
- 定量成像,特别是上皮厚度映射 (ETM),已经推进了CE重塑模式的表征.
研究的目的:
- 全面审查和综合可用的关于上皮质厚度映射 (ETM) 的数据.
- 将不同的ETM技术进行比较,并讨论它们在正常和病态角膜以及手术环境中的应用.
主要方法:
- 系统审查使用非常高频超声波 (VHF-US) 和光谱域光学连贯性断层扫描 (SD-OCT) 进行ETM的研究.
- 排除使用手动测量角膜上皮厚度 (CET) 的研究.
- 在各种角膜疾病和手术场景中分析规范数据和ETM.
主要成果:
- ETM提供了对正常眼睛,全身疾病和手术后状态的CE重塑的详细见解.
- 讨论了规范性CET数据和影响因素 (性别,年龄,日间变化,IOP).
- 在诸如角,,感染和折射后手术等疾病中审查ETM变化.
结论:
- ETM是了解角膜生理学和病理学的宝贵工具.
- 在指导折射手术规划和评估结果方面,ETM具有显著的潜力.
- 在各种眼睛表面疾病和影响眼睛的全身疾病中,ETM变化是相关的.


