基于纳米天线的动态重新配置的芯片内极度计 启用偏振 依赖光电子计算
Xu Dai1,2, Yu Yu1,3, Tao Ye1,2
1State Key Laboratory of Infrared Science and Technology, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, 500 Yu Tian Road, Shanghai 200083, China.
Nano letters
|January 11, 2024
概括
研究人员开发了一种新的动态重新配置的极度测量装置,用于智能芯片上的极化检测. 这种自动供电的传感器为先进的红外成像应用提供可调节的光响应和超高极化灭绝比 (PER).
科学领域:
- 光子学和光电学和光电子学.
- 传感器技术 传感器技术
- 红外成像技术 红外成像技术
背景情况:
- 芯片上的偏振探测器提供了紧的,无镜的架构.
- 目前的探测器缺乏动态调整偏振依赖光反应,限制了智能应用.
研究的目的:
- 为智能芯片极化传感提出一个动态重新配置的极度测量装置.
- 为了实现各种传感模式和增强性能的静电配置.
主要方法:
- 两种具有直角偏振依赖的自供电光反应的传感器内差异化.
- 静电配置用于超高极化灭绝比 (PER) 模式,斯托克斯参数直接传感和背景抑制.
- 在近至长波长红外范围进行演示.
主要成果:
- 实现了超高的PER模式 (倾向于无限).
- 启用了直接的斯托克斯参数 (S1,S2) 传感器,具有高精度 (RMSE = 1.5%,2.0%).
- 证明了对目标背景偏振对比度的独特增强和高偏振角度灵敏度 (0.51 mA·W−1·degree−1).
结论:
- 拟议的动态重新配置的极度测量方案克服了静态芯片上的探测器的局限性.
- 这项技术有望为下一代智能芯片极度计带来重大进步.
- 该设备在红外光谱中的多功能性和性能为光学传感开辟了新的道路.
