对微米分辨率深探测器计数速率性能进行首次实验评估

科学领域:

• 医学成像物理 医学成像物理
• 半导体检测器技术技术 半导体检测器技术

背景情况:

• 临床光子计数计算机断层扫描 (CT) 需要具有高空间分辨率和优异计数率性能的探测器.
• 超细度深探测器提供了微米空间分辨率的潜力,但它们的计数率能力需要实验验证.

研究的目的:

• 用于临床光子计数CT设计的超细深探测器原型的计数率性能进行实验评估.
• 为了描述探测器在广泛的X射线流动率的响应.

主要方法:

• 在MAX IV同步电机实验室使用35 keV单色X射线测试了14 × 650 μm2像素的探测器原型.
• 减光器用于实现X射线流动率,范围从3.3 × 10 ^{7>到1.3 × 10 11 mm -2s -1>.}

主要成果:

• 探测器显示计数速率线性高达6.66 × 10⁸mm^-2s^-1,计数损失为13%.
• 它在高达2.9 × 10¹⁰mm^-2s^{-1的流动率下保持功能.}
• 一个半非可麻的死时间模型准确地描述了数据,产生了2.9 ns的死时间.

结论:

• 这项研究为具有超细像素几何学的深探测器提供了第一个实验计数率性能数据.
• 结果表明,这种探测器技术适合临床CT中遇到的高流动率,并且堆积损失最小.