儿童非侵入性脑刺激的安全性
Mohammad Ali Salehinejad1, Michael Siniatchkin2
1Neuromdulation Group, Department of Psychology and Neurosciences, Leibniz-Institut für Arbeitsforschung an der TU Dortmund, Dortmund.
Current opinion in psychiatry
|January 16, 2024
概括
非侵入性脑刺激 (NIBS) 是安全的儿童,当使用跨电刺激 (tES) 和跨磁刺激 (TMS) 适当的协议. 需要进一步的研究才能完全确定发育中的大脑的长期安全性.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 儿科神经学 儿科神经学
- 临床神经生理学 临床神经生理学
背景情况:
- 非侵入性脑刺激 (NIBS) 为改变皮质刺激性提供了有前途的治疗潜力.
- 它在儿科患者群体,特别是神经发育障碍中的应用正在增长.
- 然而,在发育中的大脑中NIBS的安全性和有效性需要彻底调查.
研究的目的:
- 对儿童常用的NIBS技术的安全性进行审查.
- 为儿童群体提供跨电刺激 (tES) 和跨磁刺激 (TMS) 的概述.
- 突出在发育中的大脑中的安全考虑和应用.
主要方法:
- 文献综述,重点关注儿童和青少年tES和TMS的安全数据.
- 对近期 (2022-2023) 关于儿童群体中NIBS安全性的研究结果的分析.
- 讨论发展方面和刺激参数的考虑.
主要成果:
- 最近的研究 (2022-2023) 支持根据当前的协议在儿童和青少年中使用NIBS的安全性.
- 当遵循安全指南和排除标准时,tES和TMS都能被很好地容忍.
- 和活跃发作障碍是tES/TMS的关键排除标准,以预防发作;儿童大小的耳塞对于TMS是必要的.
结论:
- 对于儿童的tES和TMS的安全性概况通常是好的.
- 遵守安全规则,包括等排除标准,至关重要.
- 需要进一步进行大规模随机对照试验和纵向研究,以确定儿童群体的NIBS安全性.


