修复耳植入物和设备故障配置文件的变化
Bokhyun Song1, Subi Oh1, Doyun Kim2
1Department of Otorhinolaryngology-Head and Neck Surgery, Samsung Medical Center, Sungkyunkwan University School of Medicine, Seoul, Korea.
Clinical and experimental otorhinolaryngology
|January 16, 2024
概括
修复耳植入 (RCI) 率保持稳定,但设备故障是修复的主要原因. 新的并发症,如膜保留问题和电极尖端折叠问题正在出现,特别是在较新的耳植入物模型中.
科学领域:
- 耳鼻喉科 耳鼻喉科 耳鼻喉科
- 生物医学工程 生物医学工程
- 医疗器械技术 医疗器械技术
背景情况:
- 耳植入 (CI) 技术正在快速发展,使用指示不断扩大.
- 了解修订CI (RCI) 的不断变化的特征对于优化患者的治疗结果和设备寿命至关重要.
研究的目的:
- 调查RCI的变化特征和原因.
- 探索这些不断发展的RCI趋势的临床影响.
主要方法:
- 在2001年10月至2023年1月期间进行的1,430个耳植入器 (CI) 的回顾性图表审查.
- 对RCI率和原因的分析,按制造商和设备型号分层.
- 卡普兰-梅尔和考克斯对设备存活率和RCI关联的比例危险分析.
主要成果:
- 73 (5.1%) 的CI需要RCI,设备故障是最常见的原因 (54.8%).
- 较新的并发症包括膜保留问题和电极尖端折叠,特别是在特定的新型植入物模型中.
- 整体10年累积和设备存活率分别为93.4%和95.8%;各制造商 (不包括召回型号) 的存活率存在显著差异.
结论:
- 设备故障仍然是RCI的主要原因,尽管CI总体存活率稳定.
- 需要修改的并发症的性质已经转移,突出显示了较新的耳植入器设备的潜在挑战.
- 临床医生必须了解这些不断变化的RCI趋势,以有效地管理设备故障和重新操作.
