超声波相位阵列检测的缺陷特征提取基于自适应生长区域的增长区域

科学领域:

• 非破坏性测试是指非破坏性测试.
• 超声波相位阵列技术超声波相位阵列技术
• 信号处理 信号处理

背景情况:

• 超声波分相阵列 (UPA) 检测在缺陷识别方面面临挑战,原因是噪音和复杂的物体结构.
• 准确的缺陷提取对于可靠的非破坏性评估至关重要.

研究的目的:

• 提出一种适应性区域增长方法,以提高UPA中的缺陷提取.
• 在UPA测试中提高缺陷特征提取的精度和可靠性.

主要方法:

• 使用双边过和灰度处理减少噪音.
• 自适应区域的增长始于最大声压种子点.
• 使用数学形态学的特征提取.
• 使用B扫描对孔缺陷的图像进行验证.

主要成果:

• 拟议的算法在测量和实际缺陷大小之间实现了不到13%的误差.
• 与传统方法相比,证明了缺陷特征提取精度的显著提高.
• 在不同孔缺陷大小的B扫描图像上成功验证.

结论:

• 适应区域增长方法为UPA中的缺陷定位和定量分析提供了可靠的基础.
• 这种技术在具有挑战性的UPA应用中为缺陷提取提供了更高的准确性.
• 该研究强调了拟议方法在克服噪声干扰和复杂结构方面的有效性.