金属和合金的二次离子质量光谱成像
Yanjie Shen1,2, Logan Howard2,3, Xiao-Ying Yu2,3
1College of Biology and Oceanography, Weifang University, 5147 Dongfeng East Street, Weifang 261061, China.
二级离子质谱 (SIMS) 为质谱成像 (MSI) 提供了高灵敏度. 本综述涵盖SIMS原则,工具和应用,特别是金属和合金,强调AI.
科学领域:
- 表面分析和材料科学.
- 分析化学和光谱学.
背景情况:
- 二次离子质谱法 (SIMS) 是一种用于质谱成像 (MSI) 的强大技术.
- 它提供高灵敏度,选择性和广泛的动态范围,使其适用于各种科学领域.
研究的目的:
- 提供SIMS基本原则和最近仪器发展的全面审查.
- 突出SIMS在金属和合金微分析和成像中的应用.
- 讨论使用机器学习 (ML) 和人工智能 (AI) 进行大SIMS数据分析的挑战和解决方案.
主要方法:
- 对静态SIMS (包括飞行时间SIMS - ToF-SIMS) 和动态SIMS (包括纳米SIMS和大几何SIMS) 仪器的审查.
- 探索金属和合金微分析和成像中的应用.
- 讨论涉及ML和AI用于MSI数据的数据分析策略.
主要成果:
- SIMS,特别是ToF-SIMS,纳米 SIMS和大几何 SIMS,是材料微分析和成像的有效工具.
- 机器学习和人工智能对管理和分析大型SIMS数据集充满希望.
- 在现场和操作中,SIMS可以实时了解材料转变.
结论:
- SIMS是一种多功能技术,在材料科学中具有显著的实用性,特别是在金属和合金方面.
- 人工智能和机器学习的进步对于处理复杂的SIMS数据至关重要.
- 在现场和操作SIMS的未来发展将提高对动态材料过程的理解.
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