基于结构化的光边投射造型测量 (profilometry) 的相位校正策略

Optics express
|February 1, 2024
PubMed
概括

本研究引入了一种自适应阶段细分和校正 (APSC) 方法,以解决边缘投射特征测量中的阶段模糊性. 该技术通过纠正不稳定的相位区域以进行可靠的深度图计算来提高3D重建的准确性.

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