概括
这项研究揭示了1550nm纳秒激光如何损害CMOS图像传感器 (CIS),这对于自动驾驶摄像机至关重要. 更高的激光重复率和更长的曝光时间降低了损坏值,影响了传感器的可靠性.
科学领域:
- 光电学是指光电子产品.
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 激光物理 激光物理
背景情况:
- 互补金属氧化物半导体 (CMOS) 图像传感器 (CIS) 对于自动驾驶的感知系统至关重要,与LiDAR和雷达一起.
- 了解CIS中的激光诱导故障机制对于确保这些感知系统的可靠性至关重要.
研究的目的:
- 系统地研究基CIS在1550nm纳秒激光照射时的故障机制和损伤值.
- 分析激光参数 (如重复率,脉冲宽度和辐射时间) 对CIS损伤的影响.
主要方法:
- 在各种条件下,系统地用1550nm纳米秒激光对CIS进行辐射.
- 损伤类型的分类:点损伤,直线损伤和交叉损伤.
- 使用聚焦离子束 (FIB) 和扫描电子显微镜 (SEM) 分析受损的CIS.
主要成果:
- 确定了不同的损伤性能:点,线和交叉损伤.
- 确定高重复率和较长的辐射时间会导致热量积累,温度升高和较低的点损伤值.
- 观察到较短的脉冲宽度导致较低的损伤值,而较长的脉冲宽度相比.
结论:
- 建立了激光照射参数和CIS损伤特征之间的相关性.
- 为CIS提供了激光损伤机制和值的全面分析.
- 提供了宝贵的见解,以提高摄像头设计和光电子设备中的反激光增强技术.
