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Si Li1, Keming Chen1, Xiangyuan Ma2
1School of Computer Science and Technology, Guangdong University of Technology, Guangzhou, People's Republic of China.
这项研究引入了用于低剂量SPECT成像的新型半监督框架,通过利用sinogram内部结构和未标记数据来提高图像质量,以减少辐射暴露.
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