为软X射线检测优化传感器的量子效率测量和建模
Maria Carulla1, Rebecca Barten1, Filippo Baruffaldi1
1Paul Scherrer Institut, Forschungsstrasse 111, 5232 Villigen, Switzerland.
Sensors (Basel, Switzerland)
|February 10, 2024
概括
研究人员通过提高传感器量子效率来改进软X射线检测. 这一突破提升了同步子和X射线自由电子激光器中的混合像素探测器的性能.
科学领域:
- 在X射线探测器技术技术上,
- 材料科学用于辐射检测和检测.
背景情况:
- 混合像素探测器对于同步子和X射线自由电子激光设备至关重要.
- 探测器性能低于3keV,受到低量子效率和信号噪声比的限制.
研究的目的:
- 为了提高传感器的量子效率,用于软X射线检测.
- 为了提高混合像素探测器在低能量的性能.
主要方法:
- 通过表面被动化精制的传感器入口窗户设计.
- 优化了n+区域的兴奋剂概况.
- 制造的平面传感器具有薄的入口窗户和经过测试的工艺变化.
主要成果:
- 对250 eV光子实现了量子效率的显著提高,从0.5%提高到62%.
- 增强的量子效率与背面照明的科学CMOS传感器相提并论.
- 确定了各种过程参数对量子效率的影响.
结论:
- 表面被动化和优化的兴奋剂配置文件大大提高了软X射线检测.
- 开发的传感器为低能量的X射线应用提供了可行的替代方案.
- 已经概述了进一步提高量子效率的战略.


