CsPbBr3,X线

Fenghua Li1,2,3, Hu Wang1,2,3, Zhilong Chen1,3,4

  • 1Laboratory of Thin Film Optics, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China.

PubMed
概括

我们开发了一种稳定,厚厚的矿纳米晶片,用于X射线检测. 这种材料克服了以前的稳定性问题,显示了高级X射线成像板的高灵敏度和长期性能.