固态电极/电解质接口的外部电压诱导的重组,由X射线光电谱学深度分析分析揭示
Xiaoqin Chen1,2, Yanxiao Ning1, Jinhui Pei1,2
1State Key Laboratory of Catalysis, Dalian Institute of Chemical Physics, Chinese Academy of Sciences, Dalian 116023, China.
ACS applied materials & interfaces
|February 16, 2024
概括
研究全固态能源设备中的固体/固体接口揭示了金属阴极与伊特里亚稳定 (YSZ) 电解质发生反应. 这形成了一个Zr金属合金中间层,影响设备性能.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电化学 电化学 电化学
- 表面科学是一门学科.
背景情况:
- 固态/固态接口对于所有固态能源设备至关重要.
- 对埋藏的接口进行显微镜检测具有重大挑战.
研究的目的:
- 研究金属阴极和伊特里亚稳定 (YSZ) 之间的埋藏接口的重组.
- 了解影响设备性能的基本接口反应.
主要方法:
- 构建金属化稳定 (YSZ) 化Au模型电池.
- 几乎在现场的X射线光电子光谱学深度分析分析.
主要成果:
- 在YSZ中的接口Zr4+离子被减少并与金属阴极 (Au,Ni,Ag) 相互扩散,形成ZrM合金中间层.
- 接口重组程度遵循Au > Ni > Ag. 接口重组程度遵循Au > Ni > Ag. 接口重组程度遵循Au > Ni > Ag.
- 在阴极上的Zr表面分离遵循Ag > Ni > Au,由ZrM合金形成抑制.
结论:
- ZrM合金形成增强了接口重组,但抑制了Zr表面分离.
- 提供了对埋藏电极/电解质接口的接口反应的基本理解.


