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Hideyo Tsurusawa1, Jun Uzuhashi2, Yusuke Kozuka3

  • 1LQUOM Inc., 79-5, Tokiwadai, Hodogaya, Yokohama, 240-8501, Japan.

Small methods
|February 23, 2024
PubMed
概括

聚焦离子束/扫描电子显微镜 (FIB/SEM) 现在可以为先进显微镜实现20nm以下的薄膜制备. 实时厚度反可以实现精确的控制,这对于原子级材料分析至关重要.