使THz-TDSU-Net-BiLSTM

Dandan Zhang1,2,3, Lulu Li1,2,3, Jiyang Zhang1,2,3

  • 1Key Laboratory of Optoelectronic Measurement and Control and Optical Information Transmission Technology, Ministry of Education, Changchun University of Science and Technology, Changchun 130022, China.

PubMed
概括

一个新的U-Net-BiLSTM网络使用太赫兹非破坏性测试准确识别多层复合材料的缺陷. 这种先进的方法可以实现高精度的缺陷检测和航空航天材料的定量分析.

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