在 hemifacial microsomia 中对下膜神经通道的形态和定量研究
Xin Li1, Xiaojun Chen1, Ziwei Zhang1
1Department of Plastic and Reconstructive Surgery, Shanghai Ninth People's Hospital, Shanghai Jiao Tong University School of Medicine, 639 Zhi Zao Ju Road, Shanghai, 200011, People's Republic of China.
Scientific reports
|February 27, 2024
概括
这项研究揭示了半面显微症 (HFM) 患者下膜神经通道 (IANC) 的显著解剖变异,特别是在IIb和III类型中. 建议在手术规划时进行三维成像.
科学领域:
- 人体解剖学 解剖学 解剖学
- 口腔和牙面部外科手术
- 医疗成像医学成像
背景情况:
- 半面微观症 (HFM) 呈现出显著的面不对称.
- 了解下膜神经通道 (IANC) 的解剖变异对于手术干预至关重要.
研究的目的:
- 用大规模3D成像来研究HFM患者IANC的解剖过程和变异.
- 根据普鲁赞斯基-卡班分类,将IANC形态与下变形的严重程度相关联.
主要方法:
- 在使用3D成像软件的248名HFM患者中对IANC的形态分析.
- 在236名患者的IANC上,对7个地标之间的距离进行了定量测量.
- 在受影响和不受影响的侧面之间对IANC解剖学的比较以及与HFM类型的相关性.
主要成果:
- 在Pruzansky-Kaban IIb和III型HFM中观察到IANC入口,路线和出口的显著差异.
- 较高的IANC变异发生率与下变形增加有关.
- 在受影响的侧面,IANC的水平距离,包括下孔到脑孔和脑孔到孔的水平距离,显着更短.
结论:
- 在IANC的解剖过程中的异常在Pruzansky-Kaban型IIb和III HFM中很普遍.
- 横向IANC距离的减少是受影响的一侧的一个显着发现.
- 对于患有HFM的患者,建议进行手术前的3D成像评估.
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