具有任意集成时间和采样频率的光学子的最佳校准:一个一般的框架 [邀请]
Laura Pérez-García1, Martin Selin1, Antonio Ciarlo1,2
1Department of Physics, University of Gothenburg, 41296 Gothenburg, Sweden.
Biomedical optics express
|February 29, 2024
概括
精确的光学子 (OT) 校准对于定量测量至关重要. 本研究介绍了一种一般方法来纠正探测器偏差,改善陷刚性和在物理,化学和生物学中的扩散常数估计.
科学领域:
- 物理 物理学 物理
- 化学 化学 化学
- 生物学 生物学 生物学
- 生物物理学的生物物理.
- 纳米技术纳米技术
背景情况:
- 光学子 (OT) 在科学中对微操作和力传导至关重要.
- 精确校准光学陷刚度和扩散常数对于定量测量至关重要.
- 现有的校准方法可能会受到检测器限制的影响,例如有限的整合时间和采样频率.
研究的目的:
- 开发一种通用方法来纠正光学笔测量的校准偏差.
- 为广泛使用的校准方法提供理论公式,考虑探测器效应.
- 为了提高光学子数据分析的准确性和可靠性.
主要方法:
- 利用采样轨迹的联合概率密度函数.
- 开发了检测器诱导偏差的精确校正公式 (有限的整合时间,有限的采样频率).
- 将该方法应用于配分,平均平方位移,自相关性,功率光谱密度和FORMA校准技术.
主要成果:
- 提出了一种通用方法,精确地纠正探测器集成时间和采样频率偏差.
- 导出了适用于多个标准光学子校准方法的理论公式.
- 通过实验测试和蒙特卡洛模拟验证了该方法.
结论:
- 开发的方法可以更有信心地估计陷的刚性和扩散常数.
- 这项工作将光学子的适用性扩展到更广泛的实验条件中.
- 改进的校准精度将有利于使用光学笔的各种研究领域.
