Optics express
|March 5, 2024
PubMed
概括

这项研究使用高光谱成像 (HSI) 来评估由酸引起的 (SiR) 绝缘体老化. 一个联合的随机森林主要组件分析 (RF-PCA) 和卷积神经网络 (CNN) 模型使得像素级缺陷检测用于电网安全.