CMOS

Semih Ramazanoglu1, Alicja Michalowska-Forsyth1, Bernd Deutschmann1

  • 1Institute of Electronics (IFE), Graz University of Technology, Inffeldgasse 12/I, 8010 Graz, Austria.

Elektrotechnik und Informationstechnik : E & I
|March 11, 2024
PubMed
概括

随机电报噪声 (RTN) 显著影响纳米级互补金属氧化物半导体 (CMOS) 设备. 这项研究使用环振荡器在40nm CMOS中描述RTN,揭示了其在各种供应电压上的振幅和频率行为.