纯记忆力发作:一项临床 - 内EEG研究
Norihiko Kawaguchi1, Yushi Inoue1, Kiyohito Terada1,2
1National Epilepsy Center, NHO Shizuoka Institute of Epilepsy and Neurological Disorders, Shizuoka, Japan.
概括
双边半径部区域的过渡性功能障碍可以在中在纯记忆力发作 (PAS) 期间引起可逆性记忆丧失. 这些发作凸显了这些大脑区域在记忆编码中的关键作用.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 发病学 (Epileptology) 是一个专业的学科.
- 认知神经学 认知神经学
背景情况:
- 持久的前进性失忆症与双边叶损伤有关.
- 由于这些区域的暂时功能障碍导致的短暂,可逆性失忆症的可能性仍然没有得到证实.
研究的目的:
- 调查过渡性双边 mesial temporal 功能障碍和可逆性记忆丧失之间的关联.
- 在纯记忆力发作 (PAS) 期间分析电临床相关性.
主要方法:
- 追溯搜索一个内EEG数据库的PAS.
- 通过全面的视觉检查,确认纯视觉失忆.
- 分析管排泄模式和传播.
主要成果:
- 确定了三名患有叶 (TLE) 的患者,他们经历了PAS.
- 乳液排放局限于双边的月经部区域.
- 低压快速活动的传播与ictal anterograde失忆症的出现相关.
结论:
- 纯记忆力发作 (PAS) 是TLE中罕见的一种ictal semiology.
- 双边 mesial 时区域可能是PAS的症状引起区域.
- 单侧间切除导致两名患者的自由和改善认知功能.


