使用双轴斜坡对称算法实现动态平板电脑缺陷检测机制
Hsiung-Cheng Lin1, Sheng-Xi Xiao1
1Department of Electronic Engineering, National Chin-Yi University of Technology, Taichung, Taiwan.
Journal of pharmaceutical sciences
|March 14, 2024
概括
这项研究引入了一种新的双轴扫描斜率对称算法,用于有效检测平板电脑缺陷. 该方法为制药品质量控制提供了一个简单,具有成本效益的解决方案,确保产品的完整性.
科学领域:
- 制药制造业 制药制造业 制药制造业
- 质量控制 质量控制 质量控制
- 图像处理 图像处理
背景情况:
- 药片外观检查在制药生产中至关重要.
- 目前的自动化方法 (人工智能,光学仪器) 通常是复杂和昂贵的.
- 需要更简单,实时的缺陷检测解决方案.
研究的目的:
- 开发一个具有成本效益的实时平板电脑缺陷检测算法.
- 为了利用药片外观的固有对称性进行质量控制.
- 实施一种简单的基于算法的方法来识别缺陷.
主要方法:
- 开发了一个双轴扫描斜率对称算法.
- 使用图像传感器,同时沿X和Y轴扫描平板电脑.
- 传感器输出信号被数字化并存储.
- 计算了中心点坐标和截面斜率.
- 平方平均误差 (SME) 用于量化形状缺陷.
主要成果:
- 该算法成功检测到平板电脑的形状缺陷.
- 该方法基于简单的算术运算.
- 实验结果证实了快速准确的检测性能.
- 该方法提供了动态的实时检查能力.
结论:
- 拟议的双轴扫描斜率对称算法为平板电脑缺陷检测提供了一种高效和准确的方法.
- 这种技术为复杂的自动化系统提供了低成本,简单的替代方案.
- 该算法适用于制药生产中的实时质量控制.
