碳离子放射治疗后二次粒子对CIED软误差的贡献

Yudai Kawakami1, Makoto Sakai2, Hiroaki Masuda3

  • 1Graduate School of Science and Technology, Gunma University Kiryu 376-8515 Japan.

概括

碳离子放射治疗可能会导致设备故障. 这项研究测量了二次粒子辐射风险,以预测和减轻心脏植入式电气设备 (CIED) 中的软误差.