微电子的现代趋势 包装 可靠性测试 测试
Emmanuel Bender1,2, Joseph B Bernstein2, Duane S Boning1
1Microsystems Technology Laboratories, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA 02142, USA.
Micromachines
|March 28, 2024
概括
本综述总结了微电子包装可靠性趋势,从电线结合和BGA到先进的3D堆叠和互连织物集成以实现异质集成 (HI). 它探讨了设计和验证方法,为未来的HI包装挑战提出了优化测试的建议.
科学领域:
- 微电子工程 微电子工程
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 可靠性工程可靠性工程
背景情况:
- 传统的微电子包装,包括线束和球网格阵列 (BGA),面临着越来越复杂的设备的限制.
- 不同质整合 (HI) 方案需要新的包装解决方案来管理各种技术和性能要求.
研究的目的:
- 提供对微电子包装可靠性的最新进展的全面概述.
- 分析HI包装的新兴趋势,包括3D堆叠,插座和连接织物集成.
- 为复杂的包装组件提出设计修改,设备验证和优化测试实践的策略.
主要方法:
- 对当前和新兴的微电子包装技术的文献综述.
- 对设计修改研究和包装设备验证方法的分析.
- 探索确保先进包装组件兼容性的方法.
主要成果:
- 详细回顾包装的演变,从线束/BGA到先进的HI技术.
- 在复杂的HI方案中确定设计和验证的关键方法.
- 探索新的包装组件的兼容性挑战和潜在解决方案.
结论:
- 先进的包装技术,如3D堆叠和连接面料,对于未来的HI至关重要.
- 优化测试方法对于应对即将到来的HI包装的可靠性挑战至关重要.
- 为了成功实施复杂的微电子系统,需要积极的设计和验证策略.
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