,

S Borrelli1, T C H de Raadt1, S B van der Geer1

  • 1Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, Groene Loper 19, 5612 AP, Eindhoven, The Netherlands.

PubMed
概括

研究人员开发了一种使用射频偏移腔和电子成像来测量电子束到达时间的新方法. 他们观察到秒级的子波伊森统计数据,这对于先进的电子束诊断至关重要.