X线

Harmen Hoek1,2, Timm Gerber1, Clemens Richter3

  • 1Chemical Sciences Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California 94720, United States.

概括

我们使用Langmuir-Pockels低压和环境压力X射线光电谱学 (APXPS) 结合研究了酸表面活性剂层. 这种方法精确地测量了水上压缩过程中的分子包装密度变化.