X线X线,

William Chèvremont1, Theyencheri Narayanan1

  • 1ESRF - The European Synchrotron, 71 Avenue des Martyrs, 38043 Grenoble, France.

Journal of applied crystallography
|April 10, 2024
PubMed
概括

本研究提出了两种方法来纠正小角度X射线散射 (SAXS) 测量中的间接背景散射. 这些校正对于精确的超小角度散射数据分析至关重要.