X线

Tim B Berberich1,2, Serguei L Molodtsov1,3,4, Ruslan P Kurta1

  • 1European XFEL, Holzkoppel 4, 22869 Schenefeld, Germany.

Journal of applied crystallography
|April 10, 2024
PubMed
概括

这项研究提出了使用X射线自由电子激光器 (XFEL) 进行波动X射线散射 (FXS) 的纳米粒子成像的新工作流. 开源软件xFrame可以从分散的X射线数据中确定单粒子结构.