在背侧前额皮层中TMS唤起的潜力的可靠性
Juha Gogulski1,2,3, Christopher C Cline1,2, Jessica M Ross1,2,4
1Department of Psychiatry and Behavioral Sciences, Stanford University School of Medicine, 401 Quarry Road, Stanford, CA 94305, United States.
Cerebral cortex (New York, N.Y. : 1991)
|April 10, 2024
概括
通过使用跨磁刺激 (TMS) 唤起的潜能 (EL-TEPs),可对人类背侧前额皮层 (dlPFC) 刺激性进行可靠的非侵入性探测. 介质dlPFC准和特定的分析参数甚至在很少的试验中也能产生高可靠性.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 神经生理学 神经生理学
- 大脑刺激技术大脑刺激技术
背景情况:
- 评估人类背侧前额皮层 (dlPFC) 皮层刺激性的非侵入性方法是有限的.
- 之前的研究表明,dlPFC子区域的早期和本地TMS唤起潜力 (EL-TEPs) 的变化.
- 这些EL-TEP在特定dlPFC目标上的可靠性仍未确定.
研究的目的:
- 为了量化dlPFC EL-TEPs在TMS之后的会话内可靠性.
- 评估不同的目标,分析参数和试验数量如何影响可靠性.
- 在dlPFC中确定可靠EL-TEP测量的最佳条件.
主要方法:
- 在15名健康受试者中使用一致性相关系数 (CCC) 评估dlPFC EL-TEPs的会内可靠性.
- 调查了TMS到六个左 dlPFC次区域.
- 评估了各种目标,时间窗口,量化方法,感兴趣区域,传感器与源空间以及试验数量的可靠性.
主要成果:
- 中间的dlPFC目标显示了最高的平均可靠性 (CCC = 0.78),而最前面的目标显示了最低的 (CCC = 0.24).
- 大多数目标 (不包括最前面的目标) 通过特定的分析参数组合实现了可靠的EL-TEP (CCC>0.7).
- 较长的 (20-60毫秒) 和较晚的 (30-60毫秒) 时间窗口,以及峰值到峰值量化,提高了可靠性.
- 可靠的EL-TEP (CCC高达0.86) 在中介dlPFC目标中获得了25个TMS试验.
结论:
- 中等dlPFC准,更广泛的时间窗口和峰值到峰值量化是提高EL-TEP可靠性的关键.
- 通过优化目标选择和分析方法,可以通过有限数量的试验从dlPFC中提取高度可靠的EL-TEP.
- 这项研究为可靠的dlPFC皮层刺激性的非侵入性评估提供了一条途径.
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