在复合绝缘体表面上追踪污染层中的水分含量,使用超光谱成像技术
Changjie Xia1, Ming Ren1,2, Runyu Liu1
1School of Electrical Engineering, Xi'an Jiaotong University, Xi'an, Shaanxi 710049, PR China. renming@xjtu.edu.cn.
The Analyst
|April 11, 2024
概括
本研究引入了一种超光谱成像方法,用于评估受污染的电绝缘体中的水分含量,这对于防止电力系统故障至关重要. 该技术准确地可视化了湿和干燥,提高了绝缘体的可靠性.
科学领域:
- 电气工程 电气工程
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 遥感 遥感 遥感 遥感
背景情况:
- 户外电气绝缘器面临由于环境污染造成的故障风险,湿度加剧了这种风险.
- 评估污染层中的水分含量 (MC) 对于预测绝缘体故障至关重要.
研究的目的:
- 开发一种有效的方法来评估受污染的绝缘体层中的水分含量.
- 为了可视化绝缘体上的污染层的动态湿和干燥过程.
主要方法:
- 使用超光谱成像 (HSI) 技术 (371.08-1037.89 nm) 来捕捉光谱变化.
- 应用部分最小平方回归 (PLSR) 模型用于数据分析和MC计算.
- 采用特征频段选择方法来识别关键的光谱特征.
主要成果:
- 开发了PLSR模型来计算MC像素智能,从而可视化湿/干燥.
- 通过RE-RF (70%) -PLSR模型 (R2=0.9824,RMSE=0.0367) 实现了高精度.
- 确定了MC评估的特定特征波段 (543.28 nm和848.01 nm).
结论:
- 与PLSR相结合的HSI提供了一种强大的技术,用于实时监控受污染的绝缘体的MC.
- 这种方法有助于分析闪过演变和优化绝缘体设计.
- 为开发绝缘体的保护性涂层材料提供了见解.


