使用纳米空隙CBRAM用于高传感边缘的CMOS集成的三元内容可定位存储器
Gihwan Hyun1,2, Batyrbek Alimkhanuly1,2, Donguk Seo3
1Department of Electronics and Information Convergence Engineering, College of Electronics and Information, Kyung Hee University, Yongin-si, Gyeonggi-do, 17104, Republic of Korea.
Small (Weinheim an der Bergstrasse, Germany)
|April 12, 2024
概括
这项研究通过使用纳米空洞数组来增强对三元内容可定位存储器 (TCAM) 的电阻随机访问存储器 (RRAM). 这提高了传感边缘,以在以内存为中心的计算中实现更快,更大规模的数据处理.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 计算机工程 计算机工程
- 电气工程 电气工程
背景情况:
- 数据密集型计算需要硬件进步,以内存为中心的架构.
- 三级内容可定位内存 (TCAM) 对于高速内存匹配至关重要.
- 在2T2R配置中的电阻随机访问存储器 (RRAM) 为SRAM提供了具有成本效益的TCAM替代方案,但面临着有限的传感边缘.
研究的目的:
- 为TCAM应用提出一个设备工程方法,以增强导电桥内存 (CBRAM) 的切换响应.
- 为了克服基于RRAM的TCAM中的传感边际限制,实现大规模集成.
- 为了提高基于内存的TCAM的性能,以实现高效的数据处理.
主要方法:
- 集成导电桥内存 (CBRAM) 配备了辅助金属氧化物半导体 (CMOS) 晶体管技术.
- 通过结合纳米腔阵列和修改电极几何来设计设备.
- 使用实验验证的设备模型进行TCAM阵列模拟.
主要成果:
- 在内存窗口中取得了显著的改进,最高可达1.87 × 10^7.7.
- 对TCAM细胞的抗性比率显著增加,达到6.17 × 10^5.5.
- 模拟显示了65×传感边缘,使得对2048位的并行搜索.
结论:
- 纳米空洞增强的CBRAM设备显著提高了TCAM传感能力.
- 拟议的方法使基于RRAM的TCAM更接近基于SRAM的TCAM性能指标.
- 这一进步促进了在以内存为中心的计算中对广泛的数据集进行并行查询.
