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Chenhao Xia1,2, Xinwei Wang1,2,3, Liang Sun1

  • 1Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China.

PubMed
概括

这项研究引入了一种新的范围-强度-配置指导方法,用于封闭成像中的3D深度恢复. 该方法有效地使用合成数据和卷积神经网络来提高深度估计的准确性.