Yun-Pil Shim1,2, Rusko Ruskov1,2, Hilary M Hurst1

  • 1Laboratory for Physical Sciences, College Park, Maryland 20740, USA.

Applied physics letters
|April 15, 2024
PubMed
概括

本研究引入了一种非破坏性方法,通过测量诱导量子点来表征半导体晶片. 这种技术使用探针芯片来测量量子计算应用的关键设备参数.