纳米图片诱导在无形Ga2O3中的Si化,用于增强电气性能和超快速光检测

Damanpreet Kaur1, Rakhi2, Raghvendra Posti3

  • 1Functional and Renewable Energy Materials Laboratory, Department of Physics, Indian Institute of Technology Ropar, Rupnagar, Punjab, 140001, India.

概括

这项研究引入了一种新的低温方法,用于提高无形氧化物 (Ga2O3) 薄膜的电导率,使用兴奋剂. 该技术改善了灵活电子产品的载体导电和光管理.

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