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Rongbo Zhao1, Xiaolin Wang1, Yayi Wei2,3

  • 1Institute of Nuclear and New Energy Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, China.

概括

这项研究将电子束光刻 (EBL) 实验与机器学习相结合,以优化芯片制造. 使用LSTM和SVM模型的新方法准确地预测了高分辨率图案设计的石版工艺条件.