原子层沉积的单临床二氧化薄膜的增长通过锡氧化物剂稳定DRAM电容电极应用的电容电极应用
Jae Hyeon Lee1, Wangu Kang1, Jeong Eun Shin1
1Department of Materials Science and Engineering, Seoul National University of Science and Technology, Seoul 01811, Republic of Korea.
ACS applied materials & interfaces
|April 26, 2024
概括
这项研究引入了用Sn合的二氧化 (TMO) 薄膜作为优越的DRAM电容电极,克服了传统TiN的局限性. 新的原子层沉积方法稳定了MoO2,从而提高了设备的性能.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电气工程 电气工程
- 纳米技术纳米技术
背景情况:
- 在DRAM电容器中的传统TiN电极遭受了低工作功能的和接口层问题.
- 设备缩放加剧了性能限制,需要先进的电极材料.
研究的目的:
- 为DRAM电容器开发一种稳定的二氧化 (MoO2) 电极材料.
- 使用原子层沉积 (ALD) 克服MoO2的转移性.
主要方法:
- 在300°C使用ALD制造化MoO2 (TMO) 薄膜.
- 通过不同的子循环比率 (100:1到20:1) 将SnO2纳入MoO2.
- 在500°C下进行沉积后化,以获得多晶TMO薄膜.
主要成果:
- 通过ALD TMO实现稳定的单临床MoO2阶段.
- 高生长率 (0.190.34 nm/周期) 和光滑的膜形态.
- 在TMO电极上,可以忽略的低k界面层和高k路TiO2 (k=136) 的成功生长.
结论:
- ALD提供了一种策略来稳定超稳定的MoO2膜.
- 与TiN相比,ALD TMO作为DRAM电容电极表现出优异的性能.
- 开发的TMO电极可以提高DRAM设备的性能.
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