X线,使

Christopher D Liman1, Thomas A Germer2, Daniel F Sunday1

  • 1Materials Science and Engineering Division, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899, USA.

Journal of applied crystallography
|April 29, 2024
PubMed
概括

这项研究提出了一个新的建模框架,以量化地将软材料中的纳米级分子导向与偏振散射测量联系起来. 这种方法可以精确地描述纳米结构中的分子对齐.