Adam B Burns1, Dane Christie2, William D Mulhearn2

  • 1Materials Science and Engineering Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland, 20899.

概括

研究人员开发了一种新方法来估计聚合物块分离强度 (χN),使用从小角度X射线散射的界面宽度测量. 这种技术绕过了访问无序聚合物状态的需要,简化了相位行为预测.