在基质中探测固有光学异位性,通过直接纳米成像对米散射进行微波成像

Hwi Je Woo1, Jaewon Han1, Sangmin Ji1

  • 1SKKU Advanced Institute of Nanotechnology (SAINT), Sungkyunkwan University, Suwon 16419, Republic of Korea.

ACS nano
|April 30, 2024
PubMed
概括

这项研究使用Mie散射诱导表面分析 (MISA) 揭示了二硫化 (ReS2) 基板中的异构光学特性. 这些发现突出了ReS2的发现.