-- (IGZO) (TFT)

Jingyu Park1, Seungwon Go2, Woojun Chae3

  • 1School of Electrical Engineering, Kookmin University, Seoul, 02707, Republic of Korea.

Scientific reports
|May 2, 2024
PubMed
概括

在---氧化物 (IGZO) 薄膜晶体管 (TFT) 中的浮体效应 (FBE) 导致设备故障. 这项研究揭示了FBE通过在AC压力下由于捐赠者产生导电路径而导致短暂失败.