直接工作功能测量使用现场环境压力X射线光辐射光谱及其对铜氧化过程的应用
Hui Zhang1,2, Xiaobao Li2, Yong Han3
1Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Advanced Research Institute, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201204, China.
概括
这项研究证明了环境压力X射线光辐射光谱学 (APXPS) 用于精确的工作功能 (WF) 测量. APXPS能够在复杂的条件下对材料进行现场WF分析,这对于能源材料和设备至关重要.
科学领域:
- 表面科学是一门学科.
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 能源科学 能源科学
背景情况:
- 工作功能 (WF) 对能源材料和设备至关重要.
- 超高真空 (UHV) 方法限制了复杂条件下的实际WF测量.
- 在化学环境中的金属/半导体系统需要在现场进行WF测量.
研究的目的:
- 为了证明环境压力X射线光辐射光谱学 (APXPS) 对于绝对工作功能的测量.
- 展示APXPS在环境条件下进行现场WF分析的能力.
- 为了研究在氧气吸附过程中Pt{11}和Cu{11}氧化过程中的WF变化.
主要方法:
- 使用环境压力X射线光辐射光谱仪 (APXPS).
- 在上海同步辐射设施 (BL02B) 采用低光子能量的X射线.
- 在氧吸附过程中在Pt{111}和Cu{111}氧化过程中进行了现场WF测量.
主要成果:
- 在氧化物化学吸收后,由于电荷转移,在Pt和Cu2O形成后观察到WF的增加.
- 在批量Cu2O和CuO形成后,发现WF在~5.5 eV保持稳定.
- 证明了APXPS在环境氧气中绝对WF测量的有效性.
结论:
- 在复杂的化学条件下,APXPS可直接在现场进行绝对工作功能的测量.
- 这种技术弥合了金属/半导体材料的物理性质和表面化学之间的差距.
- APXPS是推动能源材料和设备工程的宝贵工具.
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