离散元件模型的参数校准用于质密集成型的成型
Zongyou Ben1,2, Xiao Sun2, Yu Bai2
1College of Engineering, Nanjing Agricultural University, Nanjing, China.
Journal of food science
|May 6, 2024
概括
这项研究使用物理测试和统计方法对质密集的离散元素模型参数进行了校准. 经过验证的模型准确地模拟了质颗粒在密集过程中的行为,这对于储存和运输至关重要.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 化学工程是化学工程的重要组成部分.
- 食品科学 食品科学 食品科学
背景情况:
- 粉末材料,如质,需要密集,以便有效的储存和运输.
- 精确模拟粉末行为对于过程优化至关重要.
研究的目的:
- 为了校准离散元素模型 (DEM) 参数用于质密集.
- 根据物理测试数据验证校准的DEM模型.
主要方法:
- 质颗粒的物理特征 (尺寸分布,密度,静止角度).
- 用Plackett-Burman,最的上升和Box-Behnken测试对Hertz-Mindlin与JKR接触模型参数进行校准.
- 静止角和密度的模拟,然后进行验证.
主要成果:
- 确定了质密度的重要因素:滚动摩擦系数 (1.038),静态摩擦系数 (0.071) 和表面能量 (0.047).
- 在模拟和测试的静止角度之间,实现了0.52%的低相对误差.
- 在模拟和实际压缩比和力曲线之间证明了相似性.
结论:
- 校准的DEM模型为质密集提供了准确的预测.
- 优化的参数增强了粉末处理性能的模拟.
- 这项研究支持改善质粉存储和运输系统的设计.
