一个后方方法来纠正格子光板结构化照明显微镜中的焦平面偏移
bioRxiv : the preprint server for biology
|May 7, 2024
概括
我们开发了一种新的方法来纠正格子光板超分辨率显微镜 (latticeSIM) 图像中的轴偏移. 这种技术减少了文物,并提高了图像质量,即使在具有挑战性的样本.
科学领域:
- 显微镜的使用方法
- 光学成像技术的成像
- 生物物理学的生物物理.
背景情况:
- 格子光板结构化照明显微镜 (latticeSIM) 提供快速,超高分辨率的3D成像,低光漂白.
- 样本诱导的误差可以导致激发和检测平面之间的轴偏移,导致格子SIM重建中的工件.
研究的目的:
- 引入一个后方方法来检测和纠正 latticeSIM.中轴偏移.
- 为在重建的格子SIM图像中提供最小化文物方法.
主要方法:
- 在频率空间中利用了来自转移结构化照明显微镜 (SIM) 组件的剩余相信息.
- 在格子SIM中检索了激发和检测焦点平面之间的轴偏移.
主要成果:
- 通过对各种样本进行模拟和实验来验证该技术,包括珠子和细胞结构.
- 证明了与测量的轴偏移应用转移函数可以最大限度地减少文物并挽救无法使用的数据.
结论:
- 开发的方法可以有效地检测和纠正 latticeSIM.中轴偏移.
- 这种技术提高了格子SIM数据集的图像质量,特别是在非理想的条件下.


