PbS,

Yu Wan1, Yan Wang1, Shengpeng Yuan1

  • 1Department of Physics, School of Physics and Materials Science, Nanchang University, Nanchang 330031, China.

概括

研究人员开发了一种尺寸受限增长方法,以防止半导体薄膜的裂,从而使红外成像的均微板阵列成为可能. 这种技术对于先进的电子设备和其他材料应用至关重要.

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