高效的脉冲序列设计框架用于高维的MR指纹扫描,使用系统错误指数

Siyuan Hu1, Zhilang Qiu1, Richard James Adams1

  • 1Department of Biomedical Engineering, Case Western Reserve University, Cleveland, Ohio, USA.

概括

一个新的系统性错误指数 (SEI) 模型通过近似真实世界的错误有效地优化磁共振指纹 (MRF) 序列. 这加速了高维的MRF序列设计,提高了准确性和减少了文物.