使 (2T2D)

Thomas G Mayerhöfer1,2, Isao Noda3, Jürgen Popp1,2

  • 1Spectroscopy and Imaging, Leibniz Institute of Photonic Technology (IPHT), Jena, Germany.

PubMed
概括

线性二元化理论表明,z切割和x切割对于介电张量分析是相当的. 然而,接口效应会改变垂直模式的行为,因此需要先进的方法,如2D相关谱学,以进行准确的分散分析.