采用辐射回声平面轨迹的单射扩散痕迹光谱成像

Andres Saucedo1,2, M Albert Thomas1,2,3

  • 1Radiological Sciences, University of California at Los Angeles, Los Angeles, California, USA.

概括

这项研究展示了一种新的,更快的方法来测量痕迹显微扩散系数 (ADCs),使用一次性扩散痕迹加权辐射回声平面光谱成像 (Trace DW-REPSI). 该技术显示了幻影和体内成像的可行性,提供比传统方法更快的扫描.