Transmission Electron Microscopy
Overview of Electron Microscopy
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Adrian Oeftiger1, Oliver Boine-Frankenheim1,2
1GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH, Planckstrasse 1, 64291 Darmstadt, Germany.
脉冲电子镜头可以显著增加同步子的强度极限,这对于高亮度的子束至关重要. 模拟显示SIS100同步仪的空间电荷极限增加了50%.
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主要成果:
结论: