Birk Hattenhorst1, Nicholas Karsch1, Thomas Musch1

  • 1Institute of Electronic Circuits, Ruhr University Bochum, Universitätsstr. 150, 44801 Bochum, Germany.

PubMed
概括

这项研究引入了一种新的极度测量雷达方法,用于检测复杂散装媒体中的痕迹粒子. 该技术有效地隔离了痕迹信号,使得可以加强对颗粒系统的监测.